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產(chǎn)品中心 · 熒光粉

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PHOSPHOR TECHNOLOGY @ 熱測溫?zé)晒夥?/h3>

產(chǎn)品負(fù)責(zé)人

姓名：李工

電話：0431-85916189

郵箱：info@china-quantum.com

溫度會影響熒光粉的發(fā)射特性。這些特性包括發(fā)射強(qiáng)度、峰值波長(發(fā)射和激發(fā))、光譜形狀、衰減和上升時間。通過測量一種或多種特性，就可以確定熒光粉的溫度；以這種方式使用的熒光粉被稱為熱測溫熒光粉，通過將它們合并到一個系統(tǒng)中，可以確定系統(tǒng)的溫度。

峰值波長的變化通常不足以用于測量溫度。有一個例外是Y2O3:Eu的激發(fā)峰，其位移最多可達(dá)0.6 nm/K。

一種常見的技術(shù)是測量兩個發(fā)射峰的比率。該材料通常包含具有多個發(fā)射峰的單一鑭系元素激活劑，或兩種不同的激活劑，每種激活劑都有自己的發(fā)射峰。升高溫度會改變該比率。高能量激發(fā)態(tài)峰的發(fā)射強(qiáng)度相對于低能量激發(fā)態(tài)峰的發(fā)射強(qiáng)度大。

測量上升時間可以作為衰減時間的替代方法，溫度會影響電子在激發(fā)態(tài)能級積累的速度，升高溫度會縮短所需的時間。通過測量發(fā)射強(qiáng)度達(dá)到最大值所需的時間，可以確定溫度大小。

這些熒光粉可用于工程（熱障涂層、表面溫度監(jiān)測、流體流動分析、電路板等領(lǐng)域的多種不同應(yīng)用)。以下是我們提供的一系列熱測溫熒光粉。

貨號	化學(xué)成分	中值粒徑（微米）	使用示例
EQD25/F-U1	Mg3.5FGeO5:Mn	4.0	表面溫度測量
KEMK63/UF-P2	BaMgAl10O17:Eu	2.5	粒子圖像測速
MK24/F-X	Al2O3:Cr	3.5	表面溫度監(jiān)測
QMK24/N-C1	Y3Al5O12:Cr	8.0	表面溫度監(jiān)測
QMK66/F-A1	Y3Al5O12:Dy	4.0	超高溫測量
SKL63/F-A1	La2O2S:Eu	3.5	發(fā)動機(jī)溫度
UPK24/UF-X	Gd3Ga5O12:Cr	2.5	發(fā)動機(jī)表面涂層
UPK24C/UF-X	Gd3Ga5O12:Cr,Ce	2.5	發(fā)動機(jī)表面涂層